お問い合わせ・FAQ | サイトマップ | ユーザー登録 | English | Global Site
半導体事業グループ ホーム > パッケージについて > NewPackage > W-CSP
ウエハレベルCSPは、モバイル機器に代表される高性能・小型化に対応した世界最小の超小型パッケージです。
OKI では、自社半導体デバイス用として培ったパッケージ技術を基に開発を行い、最先端パッケージのファンダリサービスを展開し、お客様の優れた製品開発を強力にサポートいたします。
・実装面積で従来比10%、重量10%(*1)の画期的な小型パッケージを実現
QFP/WCSP比較
|
PKGサイズ (mm2) |
実装面積
(mm2) |
端子ピッチ
(mm) |
重量
(g) |
![]() |
14×14 |
256 |
0.5 |
0.26 |
|
5×5 |
25 |
0.5 |
0.03 |
*1:当社100ピンTQFQとの比較
・LGAタイプで0.5mm typ.厚を実現(04年4月より0.4mm typ.厚をリリース予定)
・デバイス表面が樹脂で封止されているため、従来パッケージと同様の一括リフロー装置での実装が可能。
・材料/プロセス技術により優れた耐リフロー性(JEDEC レベル1)を実現。
・配線幅、配線長などのコントロールにより優れた電気特性が実現可能
携帯電話、PDA、DSC、カードなど小型・軽量機器用半導体デバイス
(マイコン、電源IC、ASIC、音源IC、RFIC、EEPROMなどのメモリー、他)
| 高温動作試験(Ta:125℃、VDD:3.6V) |
1000H Pass |
| 高温保存試験(Ta:150℃) |
1000H Pass |
| 高温高湿バイアス試験(Ta:85℃、RH:85%、VDD:3.6V) |
1000H Pass |
| 和蒸気不飽加圧試験(Ta:121℃、RH:85%) |
300H Pass |
| 温度サイクル試験(-65℃〜RT〜150℃) |
500cyc. Pass |
項 目 |
仕 様 |
| ウエハ径 | 6インチ、8インチ |
| 端子材質 | 共晶、Pbフリー(Sn-Ag-Cu) |
| 端子形状 | LGA、BGA |
| 端子ピッチ | LGA:0.3mm、BGA:0.5mm |
詳細に関しましては、お問い合わせください
お客様の開発促進・量産目標達成のため
などを行い、強力にサポートいたします。